«Академия журналистики» // В Санкт-Петербурге состоялась Международная научно-практическая конференция молодых ученых и специалистов «ЗА НАМИ БУДУЩЕЕ». Организаторы конференции — Совет молодых ученых и специалистов «Техноспецназ Росстандарта» и Совет молодых ученых и специалистов ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева».
«Масштабная конференция ориентирована на молодых профессионалов в области метрологии, стандартизации и управлении качеством», — отметил губернатор Санкт-Петербурга Александр Беглов.
Конференция объединила более 250 молодых ученых, метрологов, специалистов по стандартизации и управлению качеством из России, Беларуси, Армении, Азербайджана, Казахстана и Узбекистана.
Участники представили свыше 60 докладов, посвященных:
- развитию цифровой метрологии;
- применению ИИ и машинного зрения в измерительных процессах;
- совершенствованию эталонной базы;
- внедрению цифровых эталонов и сертификатов калибровки;
- метрологическому обеспечению высокотехнологичных отраслей экономики.
По традиции состоялся «открытый микрофон» с замглавы Росстандарта Евгением Лазаренко.
Особое место в программе занял первый международный конкурс «Лучший молодой метролог СНГ», собравший 40 участников из 7 стран.